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测量/计量仪器
蔡司MMZ G大型三坐标
蔡司MICURA小型三坐标测量机
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蔡司在线三坐标测量机GageMax® CNC
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ACCURA三坐标测量机
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厚度规7360
光学仪器及设备
共聚焦显微镜平台STELLARIS
徕卡数码显微镜DCM8
工业倒置显微镜徕卡DMi8 M / C / A
材料分析显微镜 徕卡DM1750 M
微电子和半导体检查系统 DM3 XL
立式材料显微镜 徕卡DM2700 M
美能达色差计
FEI扫描电镜
扫描仪配合设备-shot
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试验机
IMT摆锤冲击仪
英斯特朗MPX系列摆锤冲击试验机
英斯特朗MDX系列大载荷液压万能材料试验机
8803电液伺服疲劳试验系统
疲劳试验检测服务8800
MTS金属摆锤冲击试验机
进口万能试验机MTS CHT4605
SATEC系列大载荷液压万能材料试验机
ElectropulsE10000拉扭双轴落地式系统
3300系列双立柱台式电子万能材料试验机(拉力机)
工业在线及过程控制仪器
气瓶氧气取样分析系统
可编程氧气分析仪542
气瓶氧气采样分析系统
本安型便携式氧气分析仪EC92DIS
EC96缺氧/富氧检测仪
GS6000系列顶空分析仪
Zr810氧化锆氧分析仪
5250i氧气和溶解氧分析仪
GS系列顶空分析仪
8000系列氧气透过率分析仪
包装行业专用仪器
水蒸气渗透分析仪Lyssy L80-5000
水汽透过率分析仪7101
氧渗透分析仪8200
先进的静态和动态摩擦系统
先进的摆锤冲击系统
通用型落锤冲击测试仪
FD-A2高级落地落镖冲击测试仪
手动高级落镖冲击测试仪
撕裂度测试仪
7000系列水蒸气透过率分析仪
光谱检测分析仪
赛默飞直读ARL3460直读光谱仪
美国热电直读光谱仪ARL iSpark 8860
赛默飞ICAP7000电感等离子体发射光谱仪
炉前显示系统
美国热电ICE3300原子吸收光谱仪
美国热电ICE3400原子吸收光谱仪
美国热电ICE3500原子吸收光谱仪
美国热电直读光谱仪ARL iSpark 8820
美国热电直读光谱仪ARL4460
美国热电直读光谱仪ARL3460
橡塑行业专用测试仪
薄料微切割机
CNC模型1测试样本轮廓切割机
自动循环测试样品切槽机
测试样品注射成型设备
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带自动切断的熔融指数仪MFR200
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无损检测/无损探伤仪器
工业内窥镜C40-6015TH
美国泛美EPOCH 4B便携式超声波探伤仪
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古安泰工业高清内窥镜
古安泰分体式/台式工业内窥镜
数字型超声波探伤仪
古安泰工业内窥镜C40
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氧氮分析仪Tc500
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碳硫分析仪Cs600
碳硫分析仪Cs230
碳硫分析仪(燃烧法)CS844
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美国标乐全自动热镶机
美国标乐自动磨抛机
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Adventurer Pro分析密度天平
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X射线仪器
手持式光谱仪
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水分测定仪MM400
水分测量仪MM300
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表面音波张力仪U508
电子式张力仪
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超声波测厚仪DM5E Basic/DM5E/DM5EDL
超声波测厚仪DM4E/DM4/DM4DL
质谱检测分析仪
美国热电ICP-MS
ELEMENT™系列ICP-MS
石油专用分析仪器
理学超低硫分析仪Micro-Z ULS测硫仪
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产品系列
扫描电子显微镜
Apreo 材料科学应用
功能*为丰富的高性能 SEM
Apreo 性的复合透镜设计结合了静电和磁浸没技术,可产生****的高分辨率和信号选择。这使得 Apreo 成为研究纳米颗粒、催化剂、粉末和纳米器件的理想平台,并且不会降低磁性样品性能。
Apreo 受益于独特的透镜内背散射探测,这种探测提供**的材料对比度,即使在倾斜、工作距离很短或用于敏感样品时也不例外。新型复合透镜通过能量过滤进一步提高了对比度并增加了用于绝缘样品成像的电荷过滤。可选低真空模式现在的**样品仓压力为 500 Pa,可以对要求*严苛的绝缘体进行成像。
通过这些优势(包括复合末级透镜、高级探测和灵活样品处理),Apreo 可提供出色的性能和多功能性,帮助您应对未来的研究难题。
体验 Apreo SEM 带来的优势
·独有的复合末级透镜可在任何样品(即使在倾斜时或进行地形测量时)上提供优异的分辨率(1 kV 电压下为 1.0 nm),而无需进行电子束减速。
·作用极大的背散射探测 - 始终保证良好的材料对比度,即使以低电压和电子束电流并以任何倾斜角度对电子束敏感样品进行 TV 速率成像时也不例外。
·无比灵活的探测器 - 可将各个探测器部分提供的信息相结合,获得至关重要的对比度或信号强度。
·各种各样的电荷缓解策略,包括样品仓压力**为 500 Pa 的低真空模式,可实现任何样品的成像。
·**的分析平台提供高电子束电流,而且光斑很小。样品仓支持三个 EDS 探测器、共面的 EDS 和EBSD 以及针对分析进行了优化的低真空系统。
·样品处理和导航极其简单,具有多用途样品支架和 Nav-Cam+。
·通过高级用户指导、预设和撤消功能为新用户提供专家级结果。
Apreo FAQ
在切换到低真空模式之前,是否需要插入 GAD 探测器?
低真空模式可在没有安装任何配件的情况下使用。可达到的压力范围将达到 50 Pa。使用压力限制孔 (PLA),如气体分析探测器 (GAD),结果将进一步改善。此外,借助 GAD,压力**可以达到 500 Pa。
浸没透镜的“选配”是什么意思?
配置系统时不需要浸没透镜,如果安装,也不需要使用。每个 Apreo 可在 1 kV 下实现 1.3 nm 分辨率。通过安装和激发浸没透镜,可在 1 kV 下提高到 1.0 nm。此外,还提供了额外的复合透镜过滤功能。
静电镜筒关闭时,您可以使用浸没吗?
原则上来说没有。加速管和浸没透镜均打开时可以获得**效果。没有仅用于浸没的明确使用情况。默认情况下,Apreo 在操作时开启加速管,在必要时开启浸没。
镜筒内探测器(T1、T2、T3)是否能在 TV 速率下工作?
是的,可以工作。
您说在倾斜样品上不可能实现电子束减速。为什么?
电子束减速 (BD) 在样品和极片之间形成了一个静电场。使用倾斜的样品,场线将成一定角度,这会在图像中导致歪曲。这也发生在具有较大地形特征的样品上。因此,即使 BD 是一个非常有用的功能,并且是 Apreo 的标配功能,它也不能在所有情况下使用。因此,Apreo 不依靠 BD 来实现其分辨率。对于浸没系统,在不使用 BD 时,在 1 kV 下的分辨率为 1.0 nm,在不使用浸没透镜时,在 1 kV 下的分辨率为 1.3 nm。