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测量/计量仪器
蔡司MMZ G大型三坐标
蔡司MICURA小型三坐标测量机
蔡司XENOS
DuraMax
蔡司在线三坐标测量机GageMax® CNC
ZEISS CenterMax
ACCURA三坐标测量机
蔡司SPECTRUM II
蔡司CONTURA
厚度规7360
光学仪器及设备
共聚焦显微镜平台STELLARIS
徕卡数码显微镜DCM8
工业倒置显微镜徕卡DMi8 M / C / A
材料分析显微镜 徕卡DM1750 M
微电子和半导体检查系统 DM3 XL
立式材料显微镜 徕卡DM2700 M
美能达色差计
FEI扫描电镜
扫描仪配合设备-shot
形创三维扫描仪跟踪定位器c-track
试验机
IMT摆锤冲击仪
英斯特朗MPX系列摆锤冲击试验机
英斯特朗MDX系列大载荷液压万能材料试验机
8803电液伺服疲劳试验系统
疲劳试验检测服务8800
MTS金属摆锤冲击试验机
进口万能试验机MTS CHT4605
SATEC系列大载荷液压万能材料试验机
ElectropulsE10000拉扭双轴落地式系统
3300系列双立柱台式电子万能材料试验机(拉力机)
包装行业专用仪器
水蒸气渗透分析仪Lyssy L80-5000
水汽透过率分析仪7101
氧渗透分析仪8200
先进的静态和动态摩擦系统
先进的摆锤冲击系统
通用型落锤冲击测试仪
FD-A2高级落地落镖冲击测试仪
手动高级落镖冲击测试仪
撕裂度测试仪
7000系列水蒸气透过率分析仪
工业在线及过程控制仪器
气瓶氧气取样分析系统
可编程氧气分析仪542
气瓶氧气采样分析系统
本安型便携式氧气分析仪EC92DIS
EC96缺氧/富氧检测仪
GS6000系列顶空分析仪
Zr810氧化锆氧分析仪
5250i氧气和溶解氧分析仪
GS系列顶空分析仪
8000系列氧气透过率分析仪
光谱检测分析仪
赛默飞直读ARL3460直读光谱仪
美国热电直读光谱仪ARL iSpark 8860
赛默飞ICAP7000电感等离子体发射光谱仪
炉前显示系统
美国热电ICE3300原子吸收光谱仪
美国热电ICE3400原子吸收光谱仪
美国热电ICE3500原子吸收光谱仪
美国热电直读光谱仪ARL iSpark 8820
美国热电直读光谱仪ARL4460
美国热电直读光谱仪ARL3460
无损检测/无损探伤仪器
工业内窥镜C40-6015TH
美国泛美EPOCH 4B便携式超声波探伤仪
进口超声波USM35XDAC探伤仪
古安泰工业高清内窥镜
古安泰分体式/台式工业内窥镜
数字型超声波探伤仪
古安泰工业内窥镜C40
元素分析仪
氧氮分析仪TCH600
氧氮分析仪Tc500
氧氮氢分析仪(熔融法)ONH836
碳硫分析仪CS114DR
碳硫分析仪Cs600
碳硫分析仪Cs230
碳硫分析仪(燃烧法)CS844
橡塑行业专用测试仪
薄料微切割机
CNC模型1测试样本轮廓切割机
自动循环测试样品切槽机
测试样品注射成型设备
HDV6热变形维卡测试仪
带自动切断的熔融指数仪MFR200
针对高熔指聚合物的6MPCA高级融指仪
制样/消解设备
手动切片机
PCP气动冲切刀
美国标乐精密切样机
美国标乐全自动热镶机
美国标乐自动磨抛机
其他
Discovery Pro分析密度天平
Adventurer Pro分析密度天平
二手三坐标销售
Kestrel® 3000手持风速测量计
X射线仪器
手持式光谱仪
美国热电ARL 9900 XRF
ARL OPTIMX X射线荧光光谱仪(XRF)
ARL QUANTX X射线荧光能谱仪(EDXRF)
激光粒度仪
徕卡清洁度检测系统
德国PAMAS S40便携式颗粒计数器
德国PAMAS SBSS实验室台式颗粒计数器
实验室服务
激光跟踪仪在轧机上的检测
法如激光跟踪仪轧机检测
进口法如关节臂/便携式三坐标租赁检测服务
水分测定仪
水分测定仪MM400
水分测量仪MM300
水分检测仪MM500
比表面积测定仪
表面音波张力仪U508
电子式张力仪
测厚仪
超声波测厚仪DM5E Basic/DM5E/DM5EDL
超声波测厚仪DM4E/DM4/DM4DL
质谱检测分析仪
美国热电ICP-MS
ELEMENT™系列ICP-MS
石油专用分析仪器
理学超低硫分析仪Micro-Z ULS测硫仪
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产品系列
快速检测,快速行动
微电子和半导体检查系统 DM3 XL
检测速度在微电子和半导体行业的检查、过程控制或缺陷和故障分析中至关重要。您发现缺陷的速度越快,您可以做出更快的反应。
大视野——视野增加30%
DM3 XL检测系统视野开阔,可让您的团队更快地发现缺陷并提高合格率。利用独特的宏观物镜增加的30%视野。
视野更大,效率更高
看到更多意味着更快地工作。为了快速扫描6英寸以下的大型组件,DM3 XL提供了独特的微距物镜。
放大倍数为0.7倍,它可以立即捕获35.7毫米的视场-比其他常规扫描物镜大30%。
有了宏观目标,缺陷就没有机会了:
提高产量
可靠地检测到晶圆边缘或中心的显影不足
检测不均匀的径向膜厚度
LED适用于所有对比方法
DM3 XL将LED照明用于所有对比方法。LED照明提供恒定的色温,并提供所有强度级别的真实彩色成像。
在所有强度级别上逼真的彩色成像
免调整
无需更换灯泡-无需停机
可重复的结果
由于使用寿命长且功耗低,LED还具有巨大的成本节省潜力。
光学高性能
使用DM3 XL,您可以以可承受的价格享受**的光学效果。
用倾斜照明检查侧面,边缘或碎片:从不同角度照亮样品,这是可视化地形图的简便有效方法。
通过深入的暗场对比度检测样品下层中的微小划痕或小颗粒。
灵敏度和分辨率的急剧提高会让您震惊。
各种样品–可变台插入
无论您要检查哪种样品大小和样品类型,都可以从各种载物台中进行选择:
载物台尺寸:150毫米x 150毫米
舞台插件:金属插件,晶圆支架或掩模支架
快速粗台或精台定位
舒适直观地工作
彩色编码膜片助手(CCDA)简化了分辨率,对比度和景深的基本设置,有助于加快工作速度并减少操作错误。
简单直观的功能使您的团队可以更快地提供可靠的结果。
借助易于触及的控件,可在切换对比度或照明时将手放在显微镜上,将眼睛放在样品上
用右手轻松操作光强度控制器
使用可变的ErgoTubes和聚焦旋钮将显微镜调整到不同的身高